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美國LEE L180測厚儀(渦流技術)
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）
分辨率：1μm
L180 涂鍍層測厚儀的詳細介紹L180涂鍍層測厚儀功能：
可進行零點校準及全量程校準。紅寶石防磨探頭。
可對探頭進行基本校準。
具有自動關機功能。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。L180涂鍍層測厚儀指標：
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）
分辨率：1μm工
件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5 / 凹 10 ；
接觸zui小面積直徑10(mm) ；
基體臨街厚度（mm） 0.3
使用環境：溫度 0-40攝氏度； 濕度 20%-75% ； 無磁場環境
電源：四節1.5伏AAA電池
外形尺寸：112 ×69×28mm
重量：82 g(不含電池)
標準配置：
主機、標準校準片組、校準鐵基體、使用指南、校準片檢驗報告、手提箱、掛繩及電池等
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